產品型號：HCCT-40H

廠商性質：生產廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-08-07

產品簡介：

華測儀器HCCT-40H多通道電容器溫變特性測試系統

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產品技術規格書、定制方案或應用案例，歡迎致電我司技術工程師

HCCT-40H多通道電容器溫變特性測試系統由華測儀器生產，是將環境試驗箱與評估系統相結合，效率采集數據的自動化多通道系統。儀器自動評估高溫和高溫/高濕環境下電容器的絕緣退化特性。系統通過準確控制溫度環境，并測量電容器在不同溫度下的參數（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數值），從而評估其溫度特性。

性能指標需求

測量性能

電容測量范圍：1pF ~ 1μF

測量準度：±0.3%

測試頻率：固定 1kHz

測試電平：0.1V~0.3V 

測量模式：Cp并聯電容模式，適配電容測量特性

設備穩定性

連續工作穩定性：重復測量同一標準電容，測量誤差≤±0.2%；對同一被測物連續測試 100 次，數據重復誤差≤±0.3%

環境適應性：環境溫度 20±5℃、相對濕度 40%~60%

接口與適配性

測試線接口：按被測物型號定制，適配線陣、凸陣、相控陣等常見接口，接觸可靠，插拔順暢

測試板接口：預留通用對接接口，支持64/80/128通道測試線切換

通信接口：兼容 Windows10 及以上操作系統